[发明专利]一种柔性IC基板点线面缺陷的快速分类方法有效
| 申请号： | 201811328664.5 | 申请日： | 2018-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN109615606B | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 胡跃明;李璐 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/764;G06N7/02;G06T7/13;G06T7/187 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 王东东 |
| 地址： | 511458 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种柔性IC基板点线面缺陷的快速分类方法，包括，根据点线面缺陷图像检测步骤，得到缺陷检测结果；采用点线面智能分类步骤，对缺陷检测结果进行分类，得到分类结果。本发明解决了柔性IC基板点线面缺陷快速分类难题，为生产过程品质监控提供科学依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 柔性 ic 点线 缺陷 快速 分类 方法 | ||
【主权项】：
1.一种柔性IC基板点线面缺陷的快速分类方法，其特征在于，包括：根据点线面缺陷图像检测步骤，得到缺陷检测结果；采用点线面智能分类步骤，对缺陷检测结果进行分类，得到分类结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学，未经华南理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811328664.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
