[发明专利]针对点目标的高光谱探测系统及方法在审
| 申请号： | 201811335657.8 | 申请日： | 2018-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN109708754A | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | 张波;周爱明;唐琪佳;曹亮;舒锐;杜冬;秦雷;王廿菊;李秀伟 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种针对点目标的高光谱探测系统及方法，本发明采用基于混合像元光谱解混的方法，从含有点目标的混合像元光谱中分离出目标光谱，提取目标的光谱特征，并与目标光谱库中的光谱特征样本进行比对和识别，从而实现对点目标的高光谱探测和识别这一问题。 | ||
| 搜索关键词： | 点目标 高光谱探测 光谱特征 混合像元 目标光谱 光谱 比对 样本 | ||
【主权项】：
1.一种针对点目标的高光谱探测系统，其特征在于，包括：星载高光谱成像仪，用于对视场内包含点目标的区域进行高光谱成像探测，并将获取的包含目标的高光谱探测数据发送给混合像元解混装置；混合像元解混装置，用于从所述包含目标的高光谱探测数据中，提取背景光谱并对包含点目标的混合像元进行解混，分离出目标光谱；目标光谱特征提取装置，用于根据分离出的目标光谱，进行目标的光谱特征提取；光谱比对和识别装置，用于将提取到的目标的光谱特征与光谱库中的目标特征样本进行比对，识别出目标信息，对于未识别出的新目标，则将其光谱特征存入目标光谱库作为新的目标光谱特征样本。
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