[发明专利]内置自测试雷达单元和用于其中的相移测量的方法在审
| 申请号： | 201811337547.5 | 申请日： | 2018-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN109765531A | 公开（公告）日： | 2019-05-17 |
| 发明（设计）人： | 阿卜杜勒拉蒂夫·扎纳提;简·彼得·斯考特 | 申请（专利权）人： | 恩智浦有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 纪雯 |
| 地址： | 荷兰埃因霍温高科*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明描述一种内置自测试BIST雷达单元。所述BIST雷达单元包括：频率产生电路，所述频率产生电路被配置成产生mmW发射信号；发射器电路，所述发射器电路包括：被配置成将至少一个相移应用于所述mmW发射信号的至少一个移相器；以及至少一个反相器，所述至少一个反相器耦接到所述至少一个移相器且被配置成反转所述已移相mmW发射信号的相位。接收器被配置成接收并处理所述mmW发射信号的接收版本。所述至少一个反相器被配置成：旋转所述已移相mmW发射信号以将二次调制应用于所述mmW发射信号；且所述接收器被配置成接收并处理所述mmW发射信号的接收版本以基于所述mmW发射信号的所述接收版本的所述二次调制的所确定相移性能来确定所述BIST雷达单元的操作状态。 | ||
| 搜索关键词： | 发射信号 雷达单元 配置 反相器 频率产生电路 发射器电路 接收器 二次调制 移相器 自测试 内置 相移 操作状态 相移测量 反转 应用 | ||
【主权项】：
1.一种内置自测试BIST雷达单元(100)，其特征在于，包括：频率产生电路(110)，所述频率产生电路(110)被配置成用于产生mmW发射信号；发射器电路，所述发射器电路包括：至少一个移相器(130、132)，所述至少一个移相器(130、132)被配置成将至少一个相移应用于所述mmW发射信号；以及至少一个相位旋转器，所述至少一个相位旋转器耦接到所述至少一个移相器(130、132)且被配置成旋转所述已移相mmW发射信号的相位；接收器，所述接收器被配置成接收并处理所述mmW发射信号的接收版本；其中所述BIST雷达单元(100)特征在于：所述至少一个相位旋转器被配置成旋转所述已移相mmW发射信号以将二次调制应用于所述mmW发射信号；以及所述接收器被配置成接收并处理所述mmW发射信号的接收版本以基于所述mmW发射信号的所述接收版本的所述二次调制的所确定相移性能来确定所述BIST雷达单元(100)的操作状态。
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