[发明专利]一种基于外部噪声注入的毫米波干涉式综合孔径成像系统快速校准方法有效

专利信息
申请号: 201811340235.X 申请日: 2018-11-12
公开(公告)号: CN109188381B 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 苗俊刚;胡岸勇;刘凯 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 安丽
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种基于外部噪声注入的毫米波干涉式综合孔径成像系统快速校准方法,包括:基于外部点辐射噪声源,校准毫米波干涉式综合孔径成像系统中互相关值测量的相位一致性误差;基于面噪声源的温度差异实现毫米波干涉式综合孔径成像系统中自相关值的幅度一致性误差校准;结合点噪声源和面噪声源的校准结果,推导互相关测量值幅度一致性误差与自相关值一致性误差的关系,实现互相关测量值幅度一致性误差校准。本发明可以实现毫米波干涉式综合孔径成像系统福相一致性误差的快速测量和校准,满足毫米波干涉式综合孔径成像系统的快速校准需求。
搜索关键词: 一种 基于 外部 噪声 注入 毫米波 干涉 综合 孔径 成像 系统 快速 校准 方法
【主权项】:
1.一种基外部噪声注入的毫米波干涉式综合孔径成像系统快速校准方法,其特征在于,包括以下步于骤:第一步,使用外部点噪声源校准法校准毫米波干涉式综合孔径成像系统简称被测成像系统的各通道互相关值相位误差:在固定位置安装外部点噪声源并测量被测成像系统响应互相关值,与根据外部点噪声源的位置坐标和被测成像系统的天线阵列布局计算得到的互相关值理论值比较,进行互相关值相位误差校准;第二步,使用外部面噪声源校准法校准被测成像系统各通道自相关值幅度误差:在外部面噪声源不同温度下测量被测成像系统响应自相关值,并基于辐射亮温与自相关值间的线性关系特性和被测成像系统的阵列布局以及阵列中单元天线方向图,计算被测成像系统响应自相关值与理论值间的幅度差异实现自相关值幅度误差校准;第三步,校准互相关值幅度误差:基于第一步被测成像系统响应互相关值和第二步被测成像系统响应自相关值的测量结果,利用互相关值和自相关值间幅度的对应关系,得到系统响应互相关值幅度误差;第四步,对根据自相关值和互相关值误差对被测成像系统误差进行校准:根据被测成像系统响应互相关值和自相关值误差公式,和自相关值和互相关值误差测量结果,对被测成像系统的幅度和相位误差进行校准。
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