[发明专利]一种近场热反射测量装置有效
申请号: | 201811340304.7 | 申请日: | 2018-11-12 |
公开(公告)号: | CN109444212B | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 刘珠明;王大正;孙方远;郑利兵;殷伯华;韩立 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;G01N25/18 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 李博洋 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例提供了一种近场热反射测量装置,该近场热反射测量装置包括:激光发生器、光束校正系统、近场测量系统和计算机;激光发生器发射激光信号至光束校正系统;光束校正系统对激光信号的方位进行校正,并将校正后的激光信号传输至近场测量系统;近场测量系统根据校正后的激光信号得到表征待测样品的热物性信息的电信号,并将电信号传输至计算机;计算机根据电信号和预先存储的激光信号的光强得到待测样品的热物性信息。通过实施本发明,不仅能够减小环境震动的影响,还能减除由各个光学元器件本身不稳定性带来的对光束传输方位的影响,保证了近场热反射测量装置的可靠性和准确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 近场 反射 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.一种近场热反射测量装置,其特征在于,包括:激光发生器、光束校正系统、近场测量系统和计算机;所述激光发生器发射激光信号至所述光束校正系统;所述光束校正系统对所述激光信号的方位进行校正,并将校正后的激光信号传输至所述近场测量系统;所述近场测量系统根据所述校正后的激光信号得到表征待测样品的热物性信息的电信号,并将所述电信号传输至所述计算机;所述计算机根据所述电信号和预先存储的所述激光信号的光强得到所述待测样品的热物性信息。
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