[发明专利]一种基于紧缩场的阵中单元天线相位中心测量方法有效

专利信息
申请号: 201811342580.7 申请日: 2018-11-12
公开(公告)号: CN109541324B 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 苗俊刚;胡岸勇;刘凯 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R29/10
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 安丽
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种天线阵列中单元天线相位中心的测量方法,所述方法推导了紧缩场中相位中心位置与阵中单元间相位差的转换关系以及通过紧缩场直接测量的阵列输出功率与阵中单元间相位差关系,并利用紧缩场直接测量阵列天线合成输出功率,根据测量结果推导阵列中单元天线间相位差并进一步推导为阵中单元相位中心位置。通过本发明的测量方法,可以测量阵列中单元天线相位中心的位置。
搜索关键词: 一种 基于 紧缩 单元 天线 相位 中心 测量方法
【主权项】:
1.一种基于紧缩场的阵中单元天线相位中心测量方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步,在紧缩场中安装被测天线和信号发射馈源,被测天线即阵列天线固定在紧缩场中的被测天线转台上,并确保被测天线口面中心垂线与被测天线转台中心重合且被测天线的天线口面与紧缩场静区来波方向垂直;信号发射馈源固定在紧缩场发射馈源安装处,信号发射馈源波导口接噪声源;第二步,采用旋转电矢量校准法对被测天线进行相位对齐,被测天线的阵中单元通道相位一致,记录此时被测天线各通道移相数据;第三步,记录相位对齐时被测天线各通道移相数据随被测天线状态角度变化值,将被测天线转台旋转角度Δθ,重复第二步操作;第四步,统计记录的被测天线各通道移相数据随变化被测天线转台旋转角度Δθ的变化,计算被测天线的阵中单元天线相位中心变化并确定被测天线的阵中单元天线相位中心位置。
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