[发明专利]一种激光倍频晶体频率转换效率测量系统及性能表征方法

摘要

一种激光倍频晶体频率转换效率测量系统及性能表征方法，该系统包括高刚度基板、载物板、晶体固定架、X、Y向精密电动平移台、激光器、激光接收器；通过X向和Y向平移台的交替间续运动，激光接收器对倍频晶体通光口径表面进行逐点采样，获取倍频后的激光功率值；在高洁净光学测量环境中进行大口径激光倍频晶体频率转换性能表征操作时，在完成初始操作后，测量系统可在其控制器模块的控制下自动按特定轨迹完成采样并计算出用来表征倍频晶体频率转换性能的值；本发明测量系统可满足大口径激光倍频晶体频率转换效率高效精密测量需求，表征方法科学、简明，适用于高功率惯性约束聚变激光器中倍频晶体频率转换效率影响研究和现场装配校准测试。

主权项

1.一种激光倍频晶体频率转换效率测量系统，其特征在于，包括：高刚度基板(1)，为矩形平板，用以安装载物板(2)和X向精密电动平移台(5)；载物板(2)，四脚固定在所述高刚度基板(1)上，用于承载KDP晶体元件(4)；X向精密电动平移台(5)，固定在所述高刚度基板(1)上，用于承载Y向精密电动平移台(6)，并实现X方向水平移动；Y向精密电动平移台(6)，固定在所述X向精密电动平移台(5)中心位置，用于安装激光器(7)，并实现Y方向竖直移动；激光器(7)，固定于U型转接架(8)一端，用于产生基频激光；U型转接架(8)，固定在所述Y向精密电动平移台(6)中心位置，用于连接激光器(7)与激光接收器(9)，确保在平移台运动过程中，激光接收器(9)与激光器(7)相对位置保持不变；激光接收器(9)，固定于所述U型转接架(8)另一端，其内部为倍频效应测量光路，用于测量透过KDP晶体元件(4)后的二倍频激光功率；控制器模块(10)，包括控制器、计算器、显示屏(16)、控制面板(17)以及数据传输接口，一方面用于实现所述X向精密电动平移台(5)和Y向精密电动平移台(6)的运动控制，通过所述X向精密电动平移台(5)、Y向精密电动平移台(6)的交替运动实现对所述KDP晶体元件(4)通光口径的遍历式测量；另一方面，实现对所述激光器(7)和激光接收器(9)的初始设置、实时监控和数据处理。