[发明专利]纳米金属平面尖光学探测器有效
| 申请号： | 201811349627.2 | 申请日： | 2018-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN109781251B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 信钊炜;魏东 | 申请（专利权）人： | 黑芝麻国际控股有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;H01L31/108;B82Y20/00;B82Y40/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 景怀宇 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种纳米金属平面尖光学探测器，包括半导体光学探测器和纳米阵列掩模，所述纳米阵列掩模限定连接到光学探测器的多个多边形孔，其中半导体光学探测器探测由纳米阵列掩模聚焦的近场光。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 金属 平面 光学 探测器 | ||
【主权项】：
1.一种纳米金属平面尖光学探测器，包括：半导体光学探测器；和纳米阵列掩模，所述纳米阵列掩模限定连接到所述光学探测器的多个多边形孔，其中所述半导体光学探测器探测由所述纳米阵列掩模聚焦的近场光。
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