[发明专利]发光二极管的外延片及其制作方法、发光二极管有效

专利信息
申请号: 201811352072.7 申请日: 2018-11-14
公开(公告)号: CN109671815B 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 张武斌;王坤;周盈盈;曹阳;乔楠;吕蒙普;胡加辉;李鹏 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/12 分类号: H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种发光二极管的外延片及其制作方法、发光二极管,属于光电子制造技术领域。该外延片包括衬底和依次形成在衬底上的AlN缓冲层、u型GaN层、缺陷阻断层、n型层、应力释放层、发光层和p型层,缺陷阻断层为InxAlyGa1‑x‑yN层。由于GaN的晶格常数介于AlN晶格常数与InN晶格常数之间,InxAlyGa1‑x‑yN的晶格常数也介于AlN晶格常数与InN晶格常数之间,因此采用InxAlyGa1‑x‑yN制作缺陷阻断层,可以降低缺陷阻断层与n型层之间的晶格失配,缺陷密度也会随之减少,从而减少因缺陷在发光层产生的非辐射复合中心,提高了发光效率。
搜索关键词: 发光二极管 外延 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种发光二极管的外延片,其特征在于,所述外延片包括衬底和依次形成在所述衬底上的AlN缓冲层、u型GaN层、缺陷阻断层、n型层、应力释放层、发光层和p型层,所述缺陷阻断层为InxAlyGa1‑x‑yN层,其中,0<x<1,0<y<1,x+y<1。
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