[发明专利]一种实验室检测奥氏体晶粒度用表面渗碳的方法在审
申请号: | 201811353547.4 | 申请日: | 2018-11-14 |
公开(公告)号: | CN109536881A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 张学星;曾辉;刘亚军;刘彦如;张坤;陈鑫;马志宝 | 申请(专利权)人: | 中国大唐集团科学技术研究院有限公司火力发电技术研究院 |
主分类号: | C23C8/70 | 分类号: | C23C8/70;C23C8/02;G01N1/28 |
代理公司: | 北京中南长风知识产权代理事务所(普通合伙) 11674 | 代理人: | 郑海 |
地址: | 100043 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种实验室检测奥氏体晶粒度用表面渗碳的方法,包括:采用线切割的方式截取渗碳试样;在渗碳容器底面铺一层20‑30mm的渗碳剂,并捣紧,在该层渗碳剂上放置第一层试样;在第一层试样上,铺一层10mm的渗碳剂,并轻轻捣紧,然后放置第二次试样,以此类推,最终保证最上一层试样与渗碳容器端面有30mm厚的渗碳剂,将渗碳容器的密封盖合上,并密封;将渗碳容器放入热处理炉,使渗碳试样在渗碳温度927℃保温8小时以上;打开炉门,用夹子取出渗碳容器,放在地面铁板空冷,去掉密封粘土,打开密封盖,将渗碳剂倒出,取出渗碳试样;将渗碳试样切取新切面或打磨掉足够深度,检测渗碳效果和渗碳层深度。本发明能够获得满意的渗碳层组织进行钢奥氏体晶粒度测定。 | ||
搜索关键词: | 渗碳 渗碳剂 奥氏体晶粒度 实验室检测 表面渗碳 第一层 渗碳层 密封 取出 切面 密封盖合 热处理炉 容器底面 容器端面 密封盖 线切割 夹子 铁板 倒出 放入 截取 空冷 炉门 切取 保温 打磨 粘土 检测 保证 | ||
【主权项】:
1.一种实验室检测奥氏体晶粒度用表面渗碳的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,采用线切割的方式截取渗碳试样,所述试样边缘平整,无毛刺和倒边,试样表面无氧化皮、油污、锈斑、水迹和脱碳层,采用金相水砂纸对试样表面进行细磨,保证试样表面有足够的光洁度,以利于渗碳;步骤2,在渗碳容器底面铺一层20‑30mm的渗碳剂,并捣紧,在该层渗碳剂上放置第一层试样,试样与渗碳容器边缘至少保持保8mm的距离;步骤3,在第一层试样上,铺一层10mm的渗碳剂,并轻轻捣紧,然后放置第二次试样,以此类推,最终保证最上一层试样与渗碳容器端面有30mm厚的渗碳剂,并捣紧,将渗碳容器的密封盖合上,并沿缝隙和边上用粘土密封住;步骤4,将渗碳容器放入热处理炉,防止渗碳容器与热电偶接触,并使容器顶部距离炉门至少保持10mm的距离;步骤5,使渗碳试样在渗碳温度927℃保温8小时以上,停止加热,炉冷至规定温度后空冷;步骤6,打开炉门,查看渗碳容器密封是否完好后,用夹子取出渗碳容器,放在地面铁板空冷,待渗碳容器冷却到室温后,去掉密封粘土,打开密封盖,将渗碳剂倒出,取出渗碳试样;步骤7,将渗碳试样切取新切面或打磨掉足够深度,检测渗碳效果和渗碳层深度。
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