[发明专利]一种伟晶岩型稀有金属找矿方法有效

专利信息
申请号: 201811355019.2 申请日: 2018-11-14
公开(公告)号: CN109324355B 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 李善平;潘彤;任华;陈秉芳;白建海;陈静;舒树兰;甘艳辉;赵海霞 申请(专利权)人: 青海省地质调查院((青海省地质矿产研究所))
主分类号: G01V11/00 分类号: G01V11/00
代理公司: 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 代理人: 董芙蓉
地址: 810012 *** 国省代码: 青海;63
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摘要: 发明公开了一种伟晶岩型稀有金属找矿方法,包括以下步骤:根据区域地质背景以及岩浆岩分布区,利用高精度遥感解译初步识别出伟晶岩脉空间展布,再利用1:1万大比例尺地质调查,精确编制伟晶岩脉分布规律图,初步筛选出伟晶岩脉分布区。进行1:2.5万水系沉积物测量及大比例尺高精度磁法测量,圈定出稀有元素水系沉积物异常分布图、高精度磁测异常图。在重点异常区段部署1:5000岩石地球化学剖面进行控制追索,初步优选划分出含矿伟晶岩脉体;部署探槽进行揭露控制,圈定出矿化体或矿体;根据矿体或矿化体特征,优选品位高、规模大的伟晶岩脉部署钻孔,进行深部验证,并具体圈定出矿体。
搜索关键词: 一种 伟晶岩型 稀有金属 方法
【主权项】:
1.一种伟晶岩型稀有金属找矿方法,其特征在于,包括以下步骤:⑴在拟开展研究地区通过高精度遥感解译提取技术、大比例尺地质调查初步识别出伟晶岩脉空间展布形态根据区域地质背景以及岩浆岩分布区,利用高精度遥感解译提取伟晶岩脉;遥感信息源选用IKONOS卫星数据与美国ETM+数据,应用高精度卫星图像、地形图、数据统计的综合手段,采用不同波段及组合方式的图像进行对比研究,结合地面实况调查及所研究区内地质特征的进行图像解译标志的综合,辅以羟基、铁染异常与稀有金属矿产空间相关性分析;解译提取出区内伟晶岩脉分布、规模的空间展布特征;再利用大比例尺地质调查手段进行重点区段1:1万地质草测,以穿越法为主,辅以适当的追索路线,基本网度为200×50‑100m,地质观察路线垂直于地层走向布置;在伟晶岩脉、构造破碎带的成矿有利地段,网度能适当加密,必须对伟晶岩脉进行追索观察,查明其形态、产状及规模、矿化线索;地质点应布置在具有代表性的地段,定点以GPS定位系统定位,并在实地显示观测点的位置标记、标注点号;点位误差要求不大于20m,地质点每平方公里不少于30个;宽度大于5m、长度大于50m的伟晶岩脉体在图上应有所反映,在1:1万地质图中能做夸大表示;对伟晶岩脉矿化、蚀变、构造形迹进行重点观察,绘制素描图或照相;初步筛选出伟晶岩脉分布区,精确编制伟晶岩脉分布规律图;⑵针对伟晶岩脉区进行1:2.5万水系沉积物测量及大比例尺高精度磁法测量,圈定出异常区通过⑴圈定、识别出的伟晶岩脉分布区进行1:2.5万水系沉积物测量,样点分布力求最大限度控制汇水域,采样密度控制在4‑8个点/km2以内;对测试数据利用GeoExplor和Mapgis6.7软件制作稀有元素组合异常图,并进行相同主元素类内评序,而后根据稀有元素异常特征、地质条件及找矿意义大小进行异常分类;结合区域地质特征、以往物化探、重砂异常的地质成果,初步圈定找矿靶区,并进行靶区分类;利用⑴初步圈定的伟晶岩脉地区,配合开展1:5000高精度磁测;首先针对伟晶岩脉及围岩采集不同的磁性标本,测定磁参数;采用500×100m规则网,先根据工作布置图计算出每条测线所有测点的理论坐标,利用手持GPS的定位、导航功能,根据各测点理论坐标实施定位;对起始点、端点、每隔1000米用木桩标记并注明点线号,各测点做点线号、坐标、高程和磁测数据的仪器存储;后期对磁测数据进行整理、校正分析,圈定磁异常,绘制高精度磁测异常图;并结合地质特征进行解释推断,为后期相关剖面部署及预测提供直接依据;⑶对所圈定的稀有元素异常重点区段开展1:5000岩石地球化学剖面,优选含矿伟晶岩脉体根据⑵所圈定的稀有元素水系沉积物异常分布图、高精度磁测异常图,在重点异常区段部署1:5000岩石地球化学剖面进行控制追索,1:5000岩石地球化学剖面布设应垂直于伟晶岩脉体长轴走向,剖面起点用校正后GPS定位,采用罗盘定向,对误差的校正采用前后测手的测量平均值;采样点距5—10m,矿化富集地段加密至5m以下;对伟晶岩显著矿化特征采集光、薄片样进行鉴定分析;初步优选划分出含矿伟晶岩脉体;⑷优选矿化、异常较显著伟晶岩体部署探槽进行揭露控制,圈定出矿化体或矿体根据⑶优选的含矿伟晶岩脉,结合地表伟晶岩矿化蚀变、异常的特征,部署探槽进行揭露控制;结合实地踏勘、地表矿化及异常特征基础上进行槽探工程的具体定位,布置在地表第四系覆盖厚度不超过3m的矿化地段,垂直于伟晶岩脉体长轴方向布置;要求槽底宽不得小于0.5—0.8m,深度不大于3m,揭露新鲜基岩达到0.3—0.5m,以能观察清楚产状为原则;化学样槽布置在槽壁与槽底的接合处,并用红油漆在实地将样槽画出并标注样号,避免阶梯式采样,使用刻槽法采样,样槽规格为10×3cm,样品重量误差率不得高于10%,采样时要清扫采样点岩石表面,挂好围布,务必保证样品不被污染和溅失,采集方法严格按规范进行,按同一方位,同一倾角布样,各样品要首尾相接;除化学样外,还须按2—5m间距采岩石样全槽控制;通过槽探工作揭露、追索、控制矿体,初步查明矿体形态、产状、规模,圈定地表矿体;⑸利用钻探了解矿体深部品位、厚度、规模、产状的变化情况,发现矿体或矿床根据⑷地表、探槽中矿体或矿化体特征,优选品位高、规模大的伟晶岩脉部署钻孔,具体钻孔定位于地表矿化富集伟晶岩脉体,并参考伟晶岩脉体规模或地层产状、地形的因素进行具体定位;钻探工程施工为直孔,施工方法尽量采用大口径定向钻进,必须终孔口径不小于75mm;矿体及其顶底板3‑5m内的矿心、岩心平均采取率不低于80%,厚大矿体内部矿心采取率低于90%的连续长度不能超过5m,否则要采用补救措施,围岩岩心的分层平均采取率要求不得低于80%,对矿层或矿化层及其顶底板、矿化蚀变带、构造部位的主要地段的地质现象详细描述,并附必要的素描及照相,当劈心采样后,还应对重要矿化现象做补充描述记录;钻孔采样方法是沿(岩)矿心长轴方向及矿化均匀性将其劈为两半,一半作为基本分析样送测试单位加工化验,另一半留存以备查核和研究之用;在矿体上采样不得跨层,样长1.5m,最长不超过2m,矿体两侧取圈边样;通过钻探工程了解伟晶岩矿体深部品位、厚度、规模、产状的变化情况,以期发现深部矿体或矿床。
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