[发明专利]一种近红外偏振光谱测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201811357345.7 申请日: 2018-11-15
公开(公告)号: CN109253801B 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: 孟鑫;韩顺利;刘磊;张冰;江升;李志增 申请(专利权)人: 中电科仪器仪表有限公司
主分类号: G01J3/447 分类号: G01J3/447
代理公司: 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 代理人: 陈海滨
地址: 266555 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种近红外偏振光谱测试装置及方法,具体涉及近红外波段的光通信领域。其解决了现有的通道调制技术无法满足高速光通信中激光光源、DWDM组合光源等窄带光信号的偏振光谱测试的不足。该近红外偏振光谱测试装置,包括沿光路方向依次放置的准直物镜、高速偏振调制组件、汇聚物镜和红外扫描单色仪,高速偏振调制组件和红外扫描单色仪连接控制和数据处理系统,高速偏振调制组件包括沿光轴依次设置的第一液晶调制相位延迟片、第二液晶调制相位延迟片和近红外线偏振片,红外扫描单色仪包括沿光轴依次设置的入射狭缝、偏振分束镜、宽谱段四分之一波片、反射式准直物镜、平面全息光栅、旋转步进电机、反射式汇聚物镜、反射狭缝和单点探测器。
搜索关键词: 一种 红外 偏振 光谱 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种近红外偏振光谱测试装置,其特征在于,包括沿光路方向依次放置的准直物镜、高速偏振调制组件、汇聚物镜和红外扫描单色仪,所述高速偏振调制组件和红外扫描单色仪连接控制和数据处理系统,所述高速偏振调制组件包括沿光轴依次设置的第一液晶调制相位延迟片、第二液晶调制相位延迟片和近红外线偏振片,红外扫描单色仪包括沿光轴依次设置的入射狭缝、偏振分束镜、宽谱段四分之一波片、反射式准直物镜、平面全息光栅、旋转步进电机、反射式汇聚物镜、反射狭缝和单点探测器。
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