[发明专利]离子传输电阻的测量方法,及极片涂层和隔膜曲折率的测试方法有效

专利信息
申请号: 201811358723.3 申请日: 2018-11-15
公开(公告)号: CN111189884B 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 高坡;马瑞军;李绮茹;董学忠;方伟峰;文娟·刘·麦蒂斯 申请(专利权)人: 微宏动力系统(湖州)有限公司
主分类号: G01N27/04 分类号: G01N27/04;G01N27/26;G01R31/389
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 313000 浙江省湖州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种离子在极片中的传输电阻和/或离子在隔膜中的传输电阻的测量方法,包括如下步骤:首先,制作对称电池,所述对称电池中设置有分离膜;其次,根据交流阻抗获取传输电阻Rion和/或Ro。本发明还提供一种电池极片涂层和/或隔膜的曲折率的测试方法,包括如下步骤:首先,制作对称电池,所述对称电池中设置有分离膜;其次,根据交流阻抗获取传输电阻Rion和/或Ro;再次,根据公式计算曲折率τ1和/或τ2。本发明解决了传输电阻和曲折率难以获取的问题,并提高了测试结果的准确度。
搜索关键词: 离子 传输 电阻 测量方法 涂层 隔膜 曲折 测试 方法
【主权项】:
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