[发明专利]一种质心测量装置的校准装置及方法在审

专利信息
申请号: 201811359726.9 申请日: 2018-11-15
公开(公告)号: CN109540386A 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 闫磊;孙凤举;王小三;白天;高炳涛 申请(专利权)人: 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
主分类号: G01M1/12 分类号: G01M1/12
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 任超
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种质心测量装置的校准装置及方法,包括标定样件一,标定样件二,标定样件三,标定样件一,标定样件二,标定样件三均包括上定位平面与下定位平面,且每个样件的上定位平面和下定位平面相互平行;下定位平面紧固在转接工装上,转接工装连接至测量设备上。
搜索关键词: 样件 标定 定位平面 测量装置 校准装置 转接 工装 种质 测量设备 紧固 平行
【主权项】:
1.一种质心测量装置的校准装置,其特征在于:包括标定样件一(1),标定样件二(2),标定样件三(3),标定样件一(1),标定样件二(2),标定样件三(3)均包括上定位平面与下定位平面,且每个样件的上定位平面和下定位平面相互平行;下定位平面(6)紧固在转接工装(8)上,转接工装(8)连接至测量设备(11)上。
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