[发明专利]一种基于力矩平衡原理的质量测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 201811359728.8 申请日: 2018-11-15
公开(公告)号: CN109596195B 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 王小三;孙凤举;闫磊;白天 申请(专利权)人: 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
主分类号: G01G1/20 分类号: G01G1/20;G01M1/12
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 任超
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于力矩平衡原理的质量测量装置及方法,包括主刀,用以支撑杠杆及其上方的部件并保持平衡;位移器判断杠杆的平衡位置,电磁力矩器测量时配重砝码粗配后的测量装置平衡,被测产品放置在产品工装上并紧固连接,产品工装固定在滑块上,滑块沿导轨自由滑动,锁紧块用于被测产品滑动到位后的锁紧固定,导轨固定在杠杆上,激光位移传感器测量被测产品沿导轨的位移量,顶升机构将杠杆及其上方部件顶起,从而脱离主刀,顶升机构上方的称重传感器粗测被测产品的质量和质心位置,使自动加载系统加载合适的配重砝码,副刀为配重砝码提供准确的力点位置。
搜索关键词: 一种 基于 力矩 平衡 原理 质量 测量方法 装置
【主权项】:
1.一种基于力矩平衡原理的质量测量装置,其特征在于:包括主刀(6),用以支撑杠杆(12)及其上方的部件并保持平衡;位移器(2)判断杠杆(13)的平衡位置,电磁力矩器(1)测量时配重砝码(9)粗配后的测量装置平衡,被测产品(7)放置在产品工装(5)上并紧固连接,产品工装(5)固定在滑块(14)上,滑块(14)沿导轨(4)自由滑动,锁紧块(13)用于被测产品(7)滑动到位后的锁紧固定,导轨(4)固定在杠杆(12)上,激光位移传感器(3)测量被测产品(7)沿导轨(4)的位移量,顶升机构)(8将杠杆(12)及其上方部件顶起,从而脱离主刀(6),顶升机构(8)上方的称重传感器(11)粗测被测产品的质量和质心位置,使自动加载系统(10)加载合适的配重砝码(9),副刀(15)为配重砝码(10)提供准确的力点位置。
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