[发明专利]一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法在审

专利信息
申请号: 201811362587.5 申请日: 2018-11-16
公开(公告)号: CN109211131A 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 陈龙;李文邦 申请(专利权)人: 北京和众视野科技有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100825 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法,包括:采集显微镜下的皮革图片;对于有涂层特征的皮革,采用平行线法测量,包括:在垂直于皮革方向画出第一测试线,第一测试线两端都画到皮革边界之外,沿第一测试线找到皮革两侧边缘点,将两点间距作为整块皮革厚度;在垂直于皮革方向画出第二测试线,第二测试线一端画到皮革边界之外,一端画到涂层边界之外,沿第二测试线找到第二测试线方向上涂层的两侧边缘点,将两点间距作为涂层厚度;根据第一测试线及第二测试线得到的长度值,直接计算涂层厚度与皮革厚度的比值,作为国标中对于皮革表面涂层厚度占整块皮革厚度的比值。本发明能够定量测量涂层厚度与皮革厚度的比值,并且效率高。
搜索关键词: 皮革 测试线 皮革表面涂层 两侧边缘 测量 整块 垂直 定量测量 平行线法 涂层边界 涂层特征 直接计算 国标 显微镜 采集 图片
【主权项】:
1.一种皮革表面涂层厚度与皮革厚度的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,采集显微镜下的皮革图片;步骤2,对于有涂层特征的皮革,采用平行线法测量,包括:在垂直于皮革方向画出第一测试线,第一测试线两端都画到皮革边界之外,沿第一测试线找到皮革两侧边缘点,将两点间距作为整块皮革厚度;在垂直于皮革方向画出第二测试线,第二测试线一端画到皮革边界之外,一端画到涂层边界之外,沿第二测试线找到第二测试线方向上涂层的两侧边缘点,将两点间距作为涂层厚度;步骤3,根据第一测试线及第二测试线得到的长度值,直接计算涂层厚度与皮革厚度的比值,作为国标中对于皮革表面涂层厚度占整块皮革厚度的比值。
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