[发明专利]电子元器件的检测系统及其检测方法在审
| 申请号： | 201811362949.0 | 申请日： | 2018-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN111198315A | 公开（公告）日： | 2020-05-26 |
| 发明（设计）人： | 李暉;李響 | 申请（专利权）人： | 神讯电脑（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01P21/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭露一种电子元器件的检测系统及其检测方法，所述电子元器件的检测系统包括：电源模块，所述电源模块为所述电子元器件的检测系统提供电源；降压模块，所述降压模块与所述电源模块电性连接，所述降压模块用于降低所述电源模块的输出电压；检测模块，所述检测模块分别与所述RFID电子标签和所述G‑sensor元器件电性连接，所述检测模块用于检测电子设备上RFID电子标签和G‑sensor元器件的性；开关控制模块，所述开关控制模块分别与所述检测模块及所述降压模块电性连接，所述开关控制模块控制所述检测模块的开启及关闭。利用本发明的电子元器件的检测系统及其检测方法，可以同时对一电子设备上的RFID电子标签和G‑sensor元器件进行检测，有效地提高了电子设备的检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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