[发明专利]一种三相电参数测试装置

摘要

一种三相电参数测试装置，包括：MCU模块、FPGA模块及测量卡模块；MCU模块包括微处理器模块及与其双向通信的人机接口模块、双向并口总线模块；测量卡模块包括三个测量卡；所述的FPGA模块包括指令双口RAM模块、指令解析模块、计算周期定时器模块、ADC周期定时器模块、换挡控制模块、频率源选择模块、频率计算模块、ADC控制模块、ADC计算模块、数据转存模块、数据双口RAM模块；本发明完成了多通道数据采集工作在保证精度的同时实现三相同步，提高了在同一时刻的电压、电流采样的同步性、稳定性，在提高单位周期采样点数的同时，提高了高频信号采样的灵敏性，对百K级高频信号以及畸形信号具有更强的处理能力。

主权项

1.一种三相电参数测试装置，其特征在于包括：MCU模块、FPGA模块及测量卡模块；所述的MCU模块包括微处理器模块及与其双向通信的人机接口模块、双向并口总线模块；所述的测量卡模块包括三个测量卡；所述的FPGA模块包括指令双口RAM模块(1)、指令解析模块(2)、计算周期定时器模块(3)、ADC周期定时器模块(4)、换挡控制模块(5)、频率源选择模块(6)、频率计算模块(7)、ADC控制模块(8)、ADC计算模块(9)、数据转存模块(10)、数据双口RAM模块(11)；双向并口总线模块经指令双口RAM模块(1)连接指令解析模块(2)；指令解析模块(2)连接计算周期定时器模块(3)、ADC周期定时器模块(4)、换挡控制模块(5)、频率源选择模块(6)；计算周期定时器模块(3)连接ADC周期定时器模块(4)、频率计算模块(7)、ADC计算模块(9)、数据转存模块(10)、微处理器模块；ADC周期定时器模块(4)连接ADC控制模块(8)；换挡控制模块(5)、频率源选择模块(6)、ADC控制模块(8)均与三个测量卡连接，频率源选择模块(6)经频率计算模块(7)连接至数据转存模块(10)，ADC控制模块(8)经ADC计算模块(9)连接至数据转存模块(10)，数据转存模块(10)经数据双口RAM模块(11)连接至双向并口总线模块。