[发明专利]一种基于线性回归拟合的天线下倾角测量方法有效
| 申请号： | 201811363450.1 | 申请日： | 2018-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN109458980B | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 翟懿奎;邓文博;柯琪锐;伍月婷;甘俊英;徐颖;王天雷;吴细;陈丽燕 | 申请（专利权）人： | 五邑大学 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00;G01R29/10 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 梁嘉琦 |
| 地址： | 529000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于线性回归拟合的天线下倾角测量方法，包括以下步骤：对输入的原始天线图像利用深度学习方法进行图像实例分割处理，得到分割图像；对分割图像进行掩膜处理；对掩膜处理后的分割图像进行数学线性建模拟合；所述对掩膜处理后的分割图像进行数学线性建模拟合包括以下步骤：从掩膜处理后的分割图像中提取天线边缘轮廓的像素值坐标，截取位于天线右端边缘的像素值；通过数学线性建模拟合的方法将像素值坐标拟合成一条直线进而得到天线下倾角角度。通过对天线图像进行深度学习网络结合掩膜和线性拟合的处理得到天线下倾角角度，建立一种方便、安全、有效、准确的天线测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 线性 回归 拟合 天线 倾角 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于线性回归拟合的天线下倾角测量方法，其特征在于，包括以下步骤：对输入的原始天线图像利用深度学习方法进行图像实例分割处理，得到分割图像；对分割图像进行掩膜处理；对掩膜处理后的分割图像进行数学线性建模拟合；所述对掩膜处理后的分割图像进行数学线性建模拟合包括以下步骤：从掩膜处理后的分割图像中提取天线边缘轮廓的像素值坐标，截取位于正侧面天线平面右端边缘的像素值；通过数学线性建模拟合的方法将像素值坐标拟合成一条直线并获取直线斜率进而得到天线下倾角角度。
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