[发明专利]全光探测器、探测系统、响应时间测试系统及制造方法在审
| 申请号： | 201811363644.1 | 申请日： | 2018-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN109341852A | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | 王英;王义平;张龙飞;廖常锐 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/02;G01J1/04 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 王宁 |
| 地址： | 518060 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种全光探测器、探测系统、响应时间测试系统及制造方法。其中，所述全光探测器包括微纳光纤和光学谐振腔。所述微纳光纤包括过渡区和均匀区。所述均匀区与所述过渡区连接。所述光学谐振腔设置于所述均匀区。所述光学谐振腔为半导体材料制成。本申请提供的所述全光探测器通过谐振峰的变化探测光，实现全光探测，信噪比高。 | ||
| 搜索关键词： | 全光 探测器 光学谐振腔 均匀区 时间测试系统 探测系统 微纳光纤 过渡区 半导体材料 探测光 谐振峰 信噪比 响应 申请 制造 探测 | ||
【主权项】：
1.一种全光探测器，其特征在于，包括：微纳光纤(110)，包括过渡区(111)和均匀区(112)，所述均匀区(112)与所述过渡区(111)连接；光学谐振腔(120)，设置于所述均匀区(112)，且所述光学谐振腔(120)为半导体材料制成。
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