[发明专利]一种磁阻芯片标定校正系统及方法在审
| 申请号： | 201811365346.6 | 申请日： | 2018-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN109342985A | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | 李鹏;王志明;吴质冰;许爱东;明哲;李立浧 | 申请（专利权）人： | 南方电网科学研究院有限责任公司;中国南方电网有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R33/09 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 麦小婵;郝传鑫 |
| 地址： | 510670 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁阻芯片标定校正系统，包括磁阻芯片测试台，信号采集单元，一维亥姆霍兹线圈，高精度程控电流源，磁场测试单元和标定单元；待测试芯片通过磁阻芯片测试台和信号采集单元与标定单元连接；高精度程控电流源在标定单元控制下，控制一维亥姆霍兹线圈为磁阻芯片测试台提供一维均匀磁场；磁场测试单元，检测并发送一维亥姆霍兹线圈中均匀区的磁场强度至标定单元；所述标定单元，发送电流控制信号控制高精度程控电流源，接收并存储磁场强度信息和芯片响应数据。本发明通过一维亥姆霍兹线圈为待测芯片提供均匀磁场，检测记录磁阻芯片在不同磁场环境下的响应情况，得到芯片的实际响应数据，完成了对芯片的标定。 | ||
| 搜索关键词： | 磁阻芯片 标定单元 亥姆霍兹线圈 高精度程控 测试台 电流源 标定 信号采集单元 磁场测试 均匀磁场 响应数据 校正系统 芯片 磁场 发送 电流控制信号 待测试芯片 磁场环境 待测芯片 强度信息 均匀区 检测 存储 响应 记录 | ||
【主权项】：
1.一种磁阻芯片标定校正系统，其特征在于，包括磁阻芯片测试台，信号采集单元，一维亥姆霍兹线圈，高精度程控电流源，磁场测试单元和标定单元；所述磁阻芯片测试台，连接待测试芯片与信号采集单元；所述信号采集单元，接收芯片输出信号，根据接收到信号得到芯片响应数据并发送至标定单元；所述一维亥姆霍兹线圈，接收高精度程控电流源的供电，为磁阻芯片测试台提供一维均匀磁场；所述高精度程控电流源，接收标定单元的控制，为一维亥姆霍兹线圈提供工作电能；所述磁场测试单元，检测一维亥姆霍兹线圈中均匀区的磁场强度，将检测得到的磁场强度信息发送至标定单元；所述标定单元，发送电流控制信号控制高精度程控电流源，接收并存储磁场强度信息和芯片响应数据。
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