[发明专利]测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备有效
| 申请号： | 201811367342.1 | 申请日： | 2018-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN111198787B | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及一种测试程序生成方法、测试程序生成装置、计算机可读存储介质及电子设备。本公开实施例中的测试程序生成方法包括：获取待测试的所述存储器的配置信息，并获取针对所述存储器的测试逻辑；根据所述测试逻辑从预设的测试程序组件库中获取至少一种测试程序组件；对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序。本公开实施例所提供的测试程序生成方法可以满足不同的测试需求并适应不同的测试条件，而且可以避免编写出错的问题，提高了存储器测试程序的生成效率和准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 程序 生成 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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