[发明专利]逻辑电路单粒子双故障的故障模拟方法有效
| 申请号： | 201811370408.2 | 申请日： | 2018-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN109507566B | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 蔡烁;王伟征;余飞;邱佳 | 申请（专利权）人： | 长沙理工大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京致科知识产权代理有限公司 11672 | 代理人： | 谢英;魏红雅 |
| 地址： | 410114 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种逻辑电路单粒子双故障的故障模拟方法，包括：第一步骤：在目标逻辑电路中执行单粒子双故障定位以搜寻目标逻辑门对；第二步骤：确定搜寻到的目标逻辑门对的类别；第三步骤：针对目标逻辑电路的电路逻辑，获取在对目标逻辑电路施加输入激励的情况下的正常电路响应；第四步骤：针对目标逻辑电路执行双故障模拟，其中在搜寻到的目标逻辑门对中的至少一个逻辑门的输出端加入非逻辑门，并获取在对加入非逻辑门之后的整个目标逻辑电路施加与第三步骤相同的输入激励的情况下的电路响应。 | ||
| 搜索关键词： | 逻辑电路 粒子 故障 模拟 方法 | ||
【主权项】：
1.一种逻辑电路单粒子双故障的故障模拟方法，其特征在于包括：第一步骤：在目标逻辑电路中执行单粒子双故障定位以搜寻目标逻辑门对；第二步骤：确定搜寻到的目标逻辑门对的类别；第三步骤：针对目标逻辑电路的电路逻辑，获取在对目标逻辑电路施加输入激励的情况下的正常电路响应；第四步骤：针对目标逻辑电路执行双故障模拟，其中在搜寻到的目标逻辑门对中的至少一个逻辑门的输出端加入非逻辑门，并获取在对加入非逻辑门之后的整个目标逻辑电路施加与第三步骤相同的输入激励的情况下的电路响应。
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