[发明专利]一种根据设备风险等级确定设备检验周期的方法

摘要

一种根据设备风险等级确定设备检验周期的方法，S1、确认待检设备是否进行过首检，若没有则进行首检，若进行了首检，则转入S2；S2、通过以下公式确定待检设备各个部件的检验周期修正系数ai＝FRi×FCi×FM×FL；S3、确认待检设备的腐蚀机理，并计算待检设备的合理检验周期；本发明的有益效果是：根据API581标准对设备开展风险评估，评估结果包括管理水平分值、设备各个部件失效概率及失效后果、设备损伤(应力腐蚀开裂、高温氢损伤)敏感性等，结合设备的检验检测结果制定设备合理的检验周期。

主权项

1.一种根据设备风险等级确定设备检验周期的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、对全厂的管理水平进行打分，得到管理评估得分；计算待检设备的风险等级，得到待检设备各个部件的失效概率等级和设备失效后果等级；若待检设备有应力腐蚀开裂或高温氢损伤机理，得到应力腐蚀开裂或高温氢损伤敏感性为“高”或“中”或“低”；确认待检设备是否进行过首检，若没有则进行首检，若进行了首检，则转入S2；S2、通过以下公式确定待检设备各个部件的检验周期修正系数ai＝FRi×FCi×FM×FL，i＝1、2……n其中，ai为第i个部件检验周期修正系数，FRi为第i个部件失效概率修正系数，FCi为第i个部件失效后果修正系数，FM为管理修正系数,FL为设备超期服役、原始缺陷修正系数,本方法中FL取1；S3、确认待检设备的腐蚀机理，并计算待检设备的合理检验周期，具体步骤如下，S31、若待检设备的腐蚀机理为减薄腐蚀，其包括n个部件，则通过如下公式计算待检设备每个部件的检验周期，taci＝((δti1‑δi)/νi)×ai，i＝1、2……n其中，taci为第i个部件的检验周期，δti1为第i个部件待检周期内最后一次测量时的最小壁厚，νi为第i个部件的腐蚀速率，δi为第i个部件承压所需最小壁厚，ai为第i个部件检验周期修正系数；通过以下公式计算待检设备每个部件的腐蚀速率，νi＝(δti2‑δti1)/tdi i＝1、2……n其中，νi为第i个部件的腐蚀速率，δti1为第i个部件待检周期内最后一次测量时的最小壁厚，δti2为第i个部件倒数第二次测量时的最小壁厚，tdi为第i个部件最后一次测量和倒数第二次测量的间隔时间；通过以下公式计算待检设备的理论检验周期，tac＝min(tac1，tac2，......，tacn)其中,tac为待检设备的理论检验周期，tac1为第一个部件的理论检验周期，tac2为第二个部件的理论检验周期，tacn为第n个部件的理论检验周期，将待检设备理论检验周期tac向上圆整，得到一整数值trac；通过以下公式计算待检设备的合理检验周期tlC＝min(trac，9)其中，tlC为减薄腐蚀下待检设备的合理检验周期，trac为待检设备的理论检验周期，9是国家标准规定的待检设备最长检验周期，单位年；S32、若待检设备的腐蚀机理为减薄腐蚀和应力腐蚀开裂，则首先通过S31获取减薄腐蚀下待检设备的合理检验周期tIC，通过以下公式计算减薄腐蚀和应力腐蚀下待检设备的合理检验周期，T1＝min(tIC，tN1)其中，T1为减薄腐蚀和应力腐蚀下待检设备的合理检验周期，tIC为减薄腐蚀下待检设备的合理检验周期，tN1为应力腐蚀下待检设备的合理检验周期，通过以下公式计算应力腐蚀下待检设备的合理检验周期，当待检设备发现应力腐蚀开裂且未消除时，tN1＝tPJ其中，tPJ为经合于使用的评价后给出的检验周期；当待检设备未发现应力腐蚀开裂且开裂敏感性为“高”或“中”时，tN1＝tDX其中，tDX为待检设备从上次检验时间至下次大修时间之间的时间段；当待检设备未发现应力腐蚀开裂且开裂敏感性为“低”时，tN1＝6；S33、若待检设备的腐蚀机理为减薄腐蚀和高温氢损伤，则首先通过S31获取减薄腐蚀下待检设备的合理检验周期tlC，通过以下公式计算减薄腐蚀和高温氢损伤下待检设备的合理检验周期,T2＝min(tIC，tN2)其中，T2为减薄腐蚀和高温氢损伤下待检设备的合理检验周期，tIC为减薄腐蚀下待检设备的合理检验周期，tN2为高温氢损伤下待检设备的合理检验周期；通过以下公式计算高温氢损伤下待检设备的合理检验周期，当待检设备发现高温氢损伤且未消除时，tN2＝tPJ其中，tPJ为经合于使用的评价后给出的检验周期；当待检设备未发现高温氢损伤且氢损伤敏感性为“高”或“中”时，tN2＝tDX其中，tDX为待检设备从上次检验时间至下次大修时间之间的时间段，当待检设备未发现高温氢损伤且氢损伤敏感性为“低”时，tN2＝6。