[发明专利]一种引张线仪有效
| 申请号： | 201811374103.9 | 申请日： | 2018-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN109282739B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 袁建东;马力祯;何源;张斌;张雍;蔡国柱;王少明;陈文军;陆海娇;孙国珍 | 申请（专利权）人： | 中国科学院近代物理研究所 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种引张线仪，包括：探测件，所述探测件内具有腔体；第一屏蔽筒，所述第一屏蔽筒与所述探测件的一端连接；第二屏蔽筒，所述第二屏蔽筒与所述探测件的另一端连接；以及引张线，所述引张线设置于所述腔体内；其中，通过所述探测件测量当待测件相对于所述引张线产生位移变化量时所引起的电流变化量，得到所述待测件的位移变化量。本发明公开的引张线仪既能够在无电磁辐射环境使用，也能在存在电磁辐射时使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 引张线仪 | ||
【主权项】：
1.一种引张线仪，包括：探测件，所述探测件内具有腔体；第一屏蔽筒，所述第一屏蔽筒与所述探测件的一端连接；第二屏蔽筒，所述第二屏蔽筒与所述探测件的另一端连接；以及引张线，所述引张线设置于所述腔体内；其中，通过所述探测件测量当待测件相对于所述引张线产生位移变化量时所引起的电流变化量，得到所述待测件的位移变化量。
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