[发明专利]用于盾构发射基座放样的测量装置及方法有效
申请号: | 201811376296.1 | 申请日: | 2018-11-19 |
公开(公告)号: | CN109596093B | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 钱美刚;李呈旸;吕磊;唐庆;徐伟;赵志军;王超;王俊;汪家来 | 申请(专利权)人: | 上海市基础工程集团有限公司 |
主分类号: | G01C5/00 | 分类号: | G01C5/00 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 王晶 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于盾构发射基座放样的测量装置及方法,该测量装置的塔尺通过塔尺固定装置固定在盾构机发射基座轨道的四个角点上,塔尺上面装有塔尺标记装置,塔尺标记装置用于标记盾构机发射基座高差的标记;可平移测量架上安装有红外线投线仪和手持式测距仪,并架设在发射基座轴线位置上。本发明通过采用红外线投线仪及塔尺固定装置,能更方便快速,实时的观察到发射基座位置偏差,解决了原有需要先利用全站仪测量发射基座平面,再用水准仪逐个测量发射基座四个角点高程,因不能同步调节四点,在调节其余点时原先调好的点会发生变动,需要反复调节,反复施测导致测量工作量大,耗时长,且人工安放,容易造成测量的误差。 | ||
搜索关键词: | 用于 盾构 发射 基座 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于盾构发射基座放样的测量装置,包括塔尺、塔尺标记装置、塔尺固定装置、红外线投线仪、手持式测距仪、可平移测量架,其特征在于:所述塔尺通过塔尺固定装置固定在盾构机发射基座轨道的四个角点上,用于测量盾构机发射基座的高程;所述塔尺上面装有塔尺标记装置,塔尺标记装置用于标记盾构机发射基座高差的标记;所述可平移测量架上安装有红外线投线仪和手持式测距仪,并架设在发射基座轴线位置上。
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