[发明专利]一种电压测试方法及装置有效
| 申请号： | 201811376461.3 | 申请日： | 2018-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN109521263B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 龙逸 | 申请（专利权）人： | 深圳和而泰小家电智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/25 | 分类号： | G01R19/25 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种电压测试方法和装置，处理芯片的电压输入端VDD与电源连接，所述处理芯片包括模数转换器ADC通道，所述ADC通道与所述电压输入端相连，所述方法包括：所述处理芯片采集所述处理芯片内部的模数转换量化值，并确定所述处理芯片的参考电压，所述参考电压为所述处理芯片的内部电压；所述处理芯片根据所述参考电压、所述模数转换量化值以及输入电压计算公式计算所述ADC通道的输入电压；所述处理芯片根据所述输入电压以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系确定所述电源电压。本发明的技术方案，利用处理芯片直接进行电压处理，节省电路板的空间和处理芯片的资源，实现了降低整体成本的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电压 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电压测试方法，其特征在于，处理芯片的电压输入端VDD与电源连接，所述处理芯片包括模数转换器ADC通道，所述ADC通道与所述电压输入端相连，所述方法包括：所述处理芯片采集所述处理芯片内部的模数转换量化值，并确定所述处理芯片的参考电压，所述参考电压为所述处理芯片的内部电压；所述处理芯片根据所述参考电压、所述模数转换量化值以及输入电压计算公式计算所述ADC通道的输入电压；所述处理芯片根据所述输入电压以及电源电压与ADC通道的输入电压之间的对应关系确定所述电源电压。
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