[发明专利]检测薄膜晶体管基板的方法及设备在审
| 申请号： | 201811379507.7 | 申请日： | 2018-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN109817127A | 公开（公告）日： | 2019-05-28 |
| 发明（设计）人： | 庄文忠 | 申请（专利权）人： | 兴城科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G02F1/13 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 刘凤香 |
| 地址： | 中国台湾桃园市3*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种检测薄膜晶体管基板的方法，其中所述薄膜晶体管基板包括至少一显示区和围绕于所述显示区的外围区，所述外围区具有多个功能测试信号输入垫，所述方法包含：提供多个探针和感测单元；分别将所述多个探针配置于所述多个功能测试信号输入垫，以对所述多个功能测试信号输入垫施加一组测试电气信号；以及将所述感测单元配置于邻近所述显示区的边缘的感测位置，并以非接触的方式沿着所述边缘依序接收感测信号。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜晶体管基板 功能测试 信号输入 显示区 感测单元 外围区 电气信号 感测位置 感测信号 探针配置 非接触 种检测 探针 邻近 施加 测试 检测 配置 | ||
【主权项】：
1.一种检测薄膜晶体管基板的方法，其中所述薄膜晶体管基板包括至少显示区和围绕于所述显示区的外围区，所述外围区具有多个功能测试信号输入垫，所述方法包含：提供多个探针和感测单元；分别将所述多个探针配置于所述多个功能测试信号输入垫，以对所述多个功能测试信号输入垫施加一组测试电气信号；以及将所述感测单元配置于邻近所述显示区的边缘的感测位置，并以非接触的方式沿着所述边缘依序接收感测信号。
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