[发明专利]一种选择性刻蚀生长基底制备悬空石墨烯支撑膜的方法有效

专利信息
申请号: 201811381142.1 申请日: 2018-11-20
公开(公告)号: CN109437176B 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 彭海琳;郑黎明;邓兵 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: C01B32/194 分类号: C01B32/194
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 100871 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种选择性刻蚀生长基底制备悬空石墨烯支撑膜的方法。该制作方法避免了石墨烯的转移过程,效率高、成本低,一步刻蚀即可得到高质量的石墨烯支撑膜。所得的石墨烯支撑膜无需任何高分子膜及高分子纤维辅助支撑,石墨烯支撑膜层数可控,完整度高(90%‑97%)、悬空面积大(直径10‑50μm)、洁净区域广(>100nm),并可实现批量制备。此外,该石墨烯支撑膜可直接用于透射电镜支撑膜,并能实现所纳米颗粒的高分辨成像。
搜索关键词: 一种 选择性 刻蚀 生长 基底 制备 悬空 石墨 支撑 方法
【主权项】:
1.一种制备悬空石墨烯支撑膜的方法,包括:1)在金属基底的两表面生长得到石墨烯薄膜;2)刻蚀掉步骤1)所得金属基底一侧的石墨烯薄膜,旋涂光刻胶,光刻,得到石墨烯/金属基底/光刻胶复合体;3)将步骤2)所得石墨烯/金属基底/光刻胶复合体悬浮在刻蚀液液面上,刻蚀液将所述光刻步骤暴露出来的金属基底刻蚀完全,除去光刻胶,得到所述悬空石墨烯支撑膜。
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