[发明专利]用于光学地检测至少一个对象的检测器有效
| 申请号： | 201811381526.3 | 申请日： | 2014-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN109521397B | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | R·森德;I·布鲁德;S·伊尔勒;E·蒂尔 | 申请（专利权）人： | 巴斯夫欧洲公司 |
| 主分类号： | G01S5/16 | 分类号： | G01S5/16;G01C3/32;G01S11/12;G01S17/46 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 姜利芳;杨晓光 |
| 地址： | 德国莱茵河*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种用于确定至少一个对象(118)的位置的检测器(110)。所述检测器(110)包括：至少一个光学传感器(112)，所述光学传感器(112)适配于检测从所述对象(118)朝向所述检测器(110)行进的光束(150)，所述光学传感器(112)具有像素(154)的至少一个矩阵(152)；以及至少一个评估装置(126)，所述评估装置(126)适配用于确定所述光学传感器(112)的由所述光束(150)照明的像素(154)的强度分布，所述评估装置(126)进一步适配用于通过使用所述强度分布确定所述对象(118)的至少一个纵向坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 检测 至少 一个 对象 检测器 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定至少一个对象(118)的位置的检测器(110)，所述检测器(110)包括：‑至少一个光学传感器(112)，所述光学传感器(112)适配于检测从所述对象(118)朝向所述检测器(110)行进的光束(150)，所述光学传感器(112)具有像素(154)的至少一个矩阵(152)；以及‑至少一个评估装置(126)，所述评估装置(126)适配用于确定所述光学传感器(112)的由所述光束(150)照明的像素(154)的强度分布，所述评估装置(126)进一步适配用于通过使用所述强度分布确定所述对象(118)的至少一个纵向坐标。
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