[发明专利]一种氢气传感器及其制备方法在审
申请号: | 201811391600.X | 申请日: | 2018-11-21 |
公开(公告)号: | CN109557049A | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 万磊;李朝晖;陈振世;刘伟平;熊松松 | 申请(专利权)人: | 暨南大学 |
主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 陈燕娴 |
地址: | 510632 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种氢气传感器制备方法,包括步骤:将硫系软玻璃薄膜沉积于基片上;采用光刻刻蚀工艺将硫系软玻璃薄膜初步加工为硫系软玻璃微盘腔;腐蚀硫系软玻璃微盘腔下的保护层;选择性地沉积金属钯薄膜作为氢气吸收层;加工基片,完成氢气传感器的制作。本发明还公开了一种氢气传感器,包括微盘腔基片、和从下至上依次制备于基片上的保护层、硫系软玻璃微盘腔、氢气吸收层。本发明采用回音壁模式的光学微腔作为基本的传感单元,具有功耗低,抗电磁干扰性强、安全性好、灵活性强的优点。 | ||
搜索关键词: | 软玻璃 硫系 微盘 氢气传感器 氢气吸收 保护层 制备 氢气传感器制备 回音壁模式 抗电磁干扰 薄膜沉积 沉积金属 传感单元 光学微腔 钯薄膜 功耗 薄膜 加工 腐蚀 制作 | ||
【主权项】:
1.一种氢气传感器制备方法,其特征在于,具体包括如下的步骤:S1、将硫系软玻璃薄膜沉积于基片上;S2、采用光刻刻蚀工艺将硫系软玻璃薄膜初步加工为硫系软玻璃微盘腔;S3、腐蚀硫系软玻璃微盘腔下的保护层;S4、选择性地沉积金属钯薄膜作为氢气吸收层;S5、加工基片,完成氢气传感器的制作。
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