[发明专利]一种光纤EFPI传感器解调装置有效

专利信息
申请号: 201811393529.9 申请日: 2018-11-21
公开(公告)号: CN109443403B 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 李金洋;史青;毛国培;何文涛 申请(专利权)人: 北京遥测技术研究所;航天长征火箭技术有限公司
主分类号: G01D5/353 分类号: G01D5/353
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 张辉
地址: 100076 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种综合光谱解调、强度解调技术的光纤EFPI传感器高速解调装置,可应用于大动态范围低频信号和高频微扰动同时存在的工作环境,有效提取传感器特征信息。该装置通过采用光谱解调技术确定光纤EFPI传感器的准静态腔长,在此基础上由强度解调技术得到腔长的高频微扰,实现高速解调。为避免强度解调中出现“盲区”现象,该装置采用双波长强度解调技术,确保在一定EFPI腔长变化范围内始终存在位于“非盲区”的光信号。
搜索关键词: 一种 光纤 efpi 传感器 解调 装置
【主权项】:
1.一种光纤EFPI传感器解调装置,其特征在于:包括光源(4)、第一分光耦合器(5)、第二分光耦合器(6)、第三分光耦合器(7)、第四分光耦合器(8)、光纤环行器(9)、光谱测量模块(10)、数据采集及处理终端(15)、双波长强度参考模块和双波长强度测量模块;光源(4)用于向第一分光耦合器(5)提供主动测量宽带光信号;第一分光耦合器(5)将宽带光信号分为两路,其中一路通过光纤环行器(9)传输给传感器,另一路经第二分光耦合器(6),分成两路,进入双波长强度参考模块,进行滤波和强度测量,得到的强度参考信号输出给数据采集及处理终端(15);传感器的反射光信号经光纤环行器(9)传输给第三分光耦合器(7),第三分光耦合器(7)将接收的光信号分成了两路,其中一路进入光谱测量模块(10)进行光谱测量,测量得到的电信号输出给数据采集及处理终端(15);另一路经第四分光耦合器(8)分成两路,进入双波长强度测量模块,进行滤波和强度测量,得到的强度测量信号输出给数据采集及处理终端(15);数据采集及处理终端(15)根据光谱测量结果计算得到传感器准静态腔长,根据准静态腔长、强度参考信号和强度测量信号计算得到传感器腔长高频微扰量和实际腔长。
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