[发明专利]一种硅-铌酸锂异质集成扫描芯片及其制备方法、应用有效
申请号: | 201811396690.1 | 申请日: | 2018-11-22 |
公开(公告)号: | CN109581584B | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 冯吉军;潘俊;孙宇;张福领;梁焰;曾和平 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G02B6/12 | 分类号: | G02B6/12;G02F1/01 |
代理公司: | 上海邦德专利代理事务所(普通合伙) 31312 | 代理人: | 袁步兰 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提出了一种硅‑铌酸锂异质集成扫描芯片,包括铌酸锂衬底、二氧化硅包层和基于硅波导的芯层;二氧化硅包层附在铌酸锂衬底上;芯层包括光分束单元、弯曲波导、热光移相器和出射波导阵列;光分束单元、弯曲波导和出射波导阵列位于上述二氧化硅包层内;热光移相器置于二氧化硅包层上;热光移相器位于所述弯曲波导上;光分束单元包括多个基于硅波导的分束器。本发明将硅波导基片上与铌酸锂材料的异质集成,基于光学相控阵技术,采用热光调制从而改变波导折射率,进而使光束相位变化,出射方向发生偏转,从而获取1520纳米~1620纳米光通信波段的高速低损耗光调制芯片结构。本发明还提出了该芯片的制备方法和应用。 | ||
搜索关键词: | 一种 铌酸锂异质 集成 扫描 芯片 及其 制备 方法 应用 | ||
【主权项】:
1.一种硅‑铌酸锂异质集成扫描芯片,其特征在于,包括铌酸锂衬底、二氧化硅包层和基于硅波导的芯层;所述二氧化硅包层附在所述铌酸锂衬底上;所述芯层包括光分束单元、弯曲波导、热光移相器和出射波导阵列;光束依次经过光分束单元、弯曲波导、热光移相器和出射波导阵列,实现均匀分束、相位调制以及光束偏转;所述光分束单元、弯曲波导和出射波导阵列位于所述二氧化硅包层内;所述热光移相器置于所述二氧化硅包层上;所述热光移相器位于所述弯曲波导上;所述光分束单元包括多个基于硅波导的分束器;所述分束器的工作带宽为1520nm~1620nm。
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