[发明专利]一种红外探测器平均光电转换效率确定方法有效
| 申请号： | 201811399085.X | 申请日： | 2018-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN109341867B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 甄政;欧文;张聪;于灏洋;王英瑞;熊健;李昂 | 申请（专利权）人： | 北京遥感设备研究所 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 葛鹏 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种红外探测器平均光电转换效率确定方法包括步骤：构建红外探测器平均光电转换效率仿真系统；计算黑体在不同温度下辐射光子流数的差值；计算红外探测器像面上接收到黑体辐射的光子数；计算黑体在不同温度下黑体辐射照度差值；计算红外探测器光电转换后的平均响应电压；计算红外探测器感光生成的电子数；计算出红外探测器感应光子生成电子的平均效率。本发明确定了红外探测器平均光电转换效率，有利于直接评价探测器的能力，有利于红外光电成像系统能力直接评估和评价。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 红外探测器 平均 光电 转换 效率 确定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种红外探测器平均光电转换效率确定方法，其特征在于，具体步骤为：S1、构建红外探测器平均光电转换效率仿真系统；S2、计算黑体在不同温度下辐射光子流数的差值；S3、计算红外探测器像面上接收到黑体辐射的光子数；S4、计算黑体在不同温度下黑体辐射照度差值；S5、计算红外探测器光电转换后的平均响应电压；S6、计算红外探测器感光生成的电子数；S7、计算出红外探测器感应光子生成电子的平均效率。
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