[发明专利]用于排笔光束的高通量粉末衍射的装置在审

专利信息
申请号: 201811401462.9 申请日: 2018-11-22
公开(公告)号: CN109374660A 公开(公告)日: 2019-02-22
发明(设计)人: 杨斌;黄浩;张小威 申请(专利权)人: 北京科技大学;中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01N23/20008 分类号: G01N23/20008
代理公司: 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 代理人: 张仲波
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种用于排笔光束的高通量粉末衍射的装置,属于X线粉末衍射技术领域。该装置为能够区分样品不同空间位置衍射的扇面形状Soller Slit装置,通过该装置中间的多张金属薄片构成的多个狭窄通道,将样品上排笔光束照射区间内同时产生的衍射线按各狭窄通道所对应的样品位置区分开来,实现利用排笔光束同时测量样品上多点衍射数据的效果。
搜索关键词: 排笔 粉末衍射 狭窄通道 高通量 衍射 光束照射 金属薄片 空间位置 扇面形状 样品位置 衍射线 测量
【主权项】:
1.一种用于排笔光束的高通量粉末衍射的装置,其特征在于:该装置为扇面形状,在中空的扇形框架内设置多个相等间隔的金属薄片所制的隔离片,形成多个狭窄通道。
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