[发明专利]寿命评估方法及装置有效
| 申请号： | 201811406496.7 | 申请日： | 2018-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN109857974B | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 徐立立;杨静;吴超云 | 申请（专利权）人： | 广电计量检测（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/10 | 分类号： | G06F17/10 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 周清华 |
| 地址： | 100027 北京市北京经济*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种寿命评估方法及装置；其中，寿命评估方法，包括：获取待测器件在极限工作温度下的第一失效率，以及在预设温度下的第二失效率；对第一失效率与第二失效率进行处理，得到加速因子；获取待测器件在极限工作温度下的第一寿命值；对加速因子与第一寿命值进行处理，得到待测器件在预设温度下的第二寿命值。本申请通过基于第一失效率以及第二失效率得到加速因子，缩短了加速因子的获取时间，并根据加速因子以及在极限工作温度下的寿命值，得到在预设温度下的寿命值，从而实现对待测器件进行寿命评估，避免在试验时，由于试验时间过长导致评估时间过长的问题，缩短了寿命评估时间，实现在较短时间内完成寿命评估。 | ||
| 搜索关键词： | 寿命 评估 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种寿命评估方法，其特征在于，包括：获取待测器件在极限工作温度下的第一失效率，以及在预设温度下的第二失效率；对所述第一失效率与所述第二失效率进行处理，得到加速因子；获取所述待测器件在所述极限工作温度下的第一寿命值；对所述加速因子与所述第一寿命值进行处理，得到所述待测器件在所述预设温度下的第二寿命值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广电计量检测（北京）有限公司，未经广电计量检测（北京）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811406496.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：红外数据滤波方法及装置
- 下一篇：一种电能表台区和三相自动识别方法
