[发明专利]微流控芯片和分析装置有效
申请号: | 201811406603.6 | 申请日: | 2018-11-23 |
公开(公告)号: | CN109261234B | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 高山;王志东;张俊瑞 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | B01L3/00 | 分类号: | B01L3/00 |
代理公司: | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 王伟锋;刘铁生 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种微流控芯片和分析装置,涉及微流控技术领域,主要目的是用于简化微流控芯片结构。本发明的主要技术方案为:一种微流控芯片,包括:衬底基板,所述衬底基板的一侧设有TFT阵列层,所述TFT阵列层中具有呈阵列分布的多个驱动单元,每个所述驱动单元包括驱动晶体管和电容模块,所述电容模块的第一电极和第二电极之间具有电介质层,所述电介质层用于产生热量,所述驱动晶体管的第一极连接于所述TFT阵列层的数据线,所述驱动晶体管的栅极连接于所述TFT阵列层的扫描线,所述驱动晶体管的第二极连接于所述第一电极,所述第二电极接地。 | ||
搜索关键词: | 微流控 芯片 分析 装置 | ||
【主权项】:
1.一种微流控芯片,其特征在于,包括:衬底基板,所述衬底基板的一侧设有TFT阵列层,所述TFT阵列层中具有呈阵列分布的多个驱动单元,每个所述驱动单元包括驱动晶体管和电容模块,所述电容模块的第一电极和第二电极之间具有电介质层,所述电介质层用于产生热量,所述驱动晶体管的第一极连接于所述TFT阵列层的数据线,所述驱动晶体管的栅极连接于所述TFT阵列层的扫描线,所述驱动晶体管的第二极连接于所述第一电极,所述第二电极接地。
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