[发明专利]一种组合测试装置在审
申请号: | 201811408454.7 | 申请日: | 2018-11-23 |
公开(公告)号: | CN109444715A | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
发明(设计)人: | 覃兆丹;余小龙;廖星庆;刘爽;胡建辉 | 申请(专利权)人: | 格力电器(武汉)有限公司;珠海格力电器股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/073;G01R1/04 |
代理公司: | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人: | 郭亚芳 |
地址: | 430000 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及一种组合测试装置,包括:测试底板,ICT工装和FCT工装,相对设置在所述测试底板上,并间隔预设距离;所述ICT工装的ICT测试探针,与FCT工装的FCT测试探针高度不同。本发明提供的技术方案,通过将ICT工装和FCT工装集成在同一测试底板上,并采用不同高度的ICT测试探针及FCT测试探针,保证待测PCB板不同时间接触不同层次探针,ICT测试时接触低针,FCT测试时接触高针,从而实现ICT与FCT测试均使用同一个测试装置,实现了ICT、FCT合并测试,解决了ICT\FCT测试过程隔离和干扰问题。 | ||
搜索关键词: | 测试底板 工装 探针 组合测试装置 测试探针 测试 测试过程 测试装置 相对设置 预设距离 低针 高针 隔离 合并 保证 | ||
【主权项】:
1.一种组合测试装置,其特征在于,包括:测试底板,ICT工装和FCT工装,相对设置在所述测试底板上,并间隔预设距离;所述ICT工装的ICT测试探针,与FCT工装的FCT测试探针高度不同。
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