[发明专利]一种星点像亚像元定位精度的验证方法有效
| 申请号： | 201811410797.7 | 申请日： | 2018-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN111220177B | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | 吴伟平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 曹卫良 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开一种星点像亚像元定位精度的验证方法。该验证方法包括确定地球自转360度的周期，待验证光学系统的焦距；将光学系统的主光轴对准赤纬为第一预设值的恒星进行积分，在预设时间间隔内进行多次观测并且在所述观测过程中所述光学系统保持静止不动；采用待验证的亚像元定位算法计算各个星点像的位置并采用距离公式计算相邻两个星像点之间的距离；求取第一次观测时所述恒星的入射光线与光线系统的主光轴的夹角；计算两次相邻观测时间点中地球转过的角度、视轴夹角，以及星像点在像面上的移动距离；计算所述待验证的亚像元定位算法的定位精度。该验证方法具有稳定性和高精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 星点 像亚像元 定位 精度 验证 方法 | ||
【主权项】：
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