[发明专利]伽马光子作用位置抽样方法、装置、电子设备及存储介质有效
申请号: | 201811417389.4 | 申请日: | 2018-11-26 |
公开(公告)号: | CN109613593B | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
发明(设计)人: | 吕振雷;魏清阳;刘亚强;江年铭;许天鹏;刘迈 | 申请(专利权)人: | 北京永新医疗设备有限公司 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张润 |
地址: | 102206 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请提出一种闪烁晶体探测器中伽马光子作用位置抽样方法、装置、电子设备及存储介质。其中,该方法包括:根据闪烁晶体探测器的输出信号确定伽马光子发生作用的晶体标识,并获取与晶体标识对应的晶体内部作用位置的概率分布,以及根据晶体内部作用位置的概率分布,对伽马光子在目标晶体内部发生作用的位置进行抽样,以得到伽马光子在目标晶体内部发生作用的目标作用位置。由此,基于晶体内部作用位置的概率分布,对伽马光子在目标晶体内部发生作用的位置进行准确抽样,准确得到了晶体内部发生作用的目标作用位置,为后续基于目标作用位置准确重建图像奠定的基础。 | ||
搜索关键词: | 光子 作用 位置 抽样 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种闪烁晶体探测器中伽马光子作用位置抽样方法,其特征在于,包括:根据所述闪烁晶体探测器的输出信号确定伽马光子发生作用的晶体标识;获取与所述晶体标识对应的晶体内部作用位置的概率分布;根据所述晶体内部作用位置的概率分布,对伽马光子在目标晶体内部发生作用的位置进行抽样,以得到伽马光子在所述目标晶体内部发生作用的目标作用位置,其中,所述目标晶体与所述晶体标识对应。
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