[发明专利]一种基区组分递变的空间失配电池外延片的制备方法在审

专利信息
申请号: 201811417502.9 申请日: 2018-11-26
公开(公告)号: CN109545896A 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 万智;徐培强;林晓珊;张银桥;汪洋;王向武 申请(专利权)人: 南昌凯迅光电有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0693;H01L31/0687;H01L31/0304
代理公司: 南昌大牛专利代理事务所(普通合伙) 36135 代理人: 喻莎
地址: 330000 江西省南*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明公开了一种基区组分递变的空间失配电池外延片的制备方法,由于顶电池和中电池与衬底Ge晶格不匹配,需要一定厚度组分渐变的缓冲层来消除失配引起的应力。本发明公开了一种基区组分递变的空间失配电池外延片的制备方法,它是将中电池基区层组分递变,即:本发明将空间GaInP/InGaAs/Ge失配电池的中电池的p‑GaInAs基区层分为五个组分递变的递变层,递变层之间沉积组分缓变的过渡层。与常规GaInP/InGaAs/Ge失配电池相比,消除了常规失配电池较厚的缓冲层,从而达到减少成本的目的。通过优化缓冲层生长速率、厚度和ⅤⅢ比来减少位错,降低因组分变化产生的复合,以达到常规失配结构的光电转化效率。
搜索关键词: 失配 电池 缓冲层 外延片 基区 制备 递变层 基区层 光电转化效率 组分变化 组分渐变 顶电池 过渡层 沉积 衬底 缓变 晶格 位错 匹配 复合 生长 优化
【主权项】:
1.一种基区组分递变的空间失配电池外延片的制备方法,其特征在于:新结构中未生长常规失配电池结构中的缓冲层,在中电池基区中沉积组分递变的GaInAs层,递变层之间生长组分缓变的过渡层,具体步骤如下:提供一p‑Ge衬底,运用AXITRON公司的金属有机化合物化学气相沉淀设备,在p‑Ge衬底上依次沉积n‑AlGaInP成核层,n‑GaAs/n‑GaInAs缓冲层,n++‑GaAs/p++‑GaAs隧穿结层,p‑AlGaAs/p‑AlGaInAs(DBR)反射层,p‑GaInP背场层,p‑GaInAs基区层,n‑GaInAs发射区层,n‑AlInP窗口层,n++‑GaInP/p++‑AlGaAs隧穿结层,p‑AlGaInP背场层,p‑GaInP基区层,n‑GaInP发射区层,n‑AlInP窗口层和n+‑GaAs欧姆接触层。
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