[发明专利]半导体器件及其故障检测方法在审
| 申请号： | 201811418423.X | 申请日： | 2018-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN109840226A | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | 山口恭平;川上大辅;浜崎博幸 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F13/26 | 分类号： | G06F13/26 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的实施例涉及半导体器件及其故障检测方法。一种半导体器件包括中断控制电路，其从电路块接收多个中断信号并向处理器输出中断请求；以及中断监测电路，其与中断信号中的一个中断信号相对应，并且包括用于设置监测类型以及第一监测周期和第二监测周期的设置电路。如果监测类型指示中断信号的断言状态，则中断监测电路监测该断言状态。如果连续断言状态的第一持续时间超过第一监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。如果监测类型指示中断信号的否定状态，则中断监测电路监测该否定状态。如果连续否定状态的第二持续时间超过第二监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。 | ||
| 搜索关键词： | 中断监测 中断信号 监测周期 电路 半导体器件 监测类型 断言 故障检测 状态检测 中断控制电路 处理器输出 设置电路 中断请求 电路块 监测 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，包括：第一处理器，响应于中断请求而执行预先确定的中断；多个电路块，每个电路块输出中断信号；第一中断控制电路，从所述电路块接收所述中断信号，并且向所述第一处理器输出所述中断请求；以及至少一个中断监测电路，与所述中断信号中的至少一个中断信号相对应、并且包括设置电路，所述设置电路用于设置监测类型和监测周期，所述监测类型指示对应的所述中断信号的监测状态，其中如果所述监测类型指示所述中断信号的断言状态，则所述中断监测电路监测所述断言状态，以及如果连续断言状态的第一持续时间超过第一监测周期，则所述中断监测电路将所述状态检测为故障，以及其中如果所述监测类型指示所述中断信号的否定状态，则所述中断监测电路监测所述否定状态，以及如果连续否定状态的第二持续时间超过第二监测周期，则所述中断监测电路将所述状态检测为故障。
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