[发明专利]一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法、系统及装置有效
| 申请号： | 201811420561.1 | 申请日： | 2018-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN109545269B | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 孙雷;赵惠玲;赵曾臻;初飞;林欢欢;胡成莉;高敏;王艺;连宇;黄李昊 | 申请（专利权）人： | 西北工业大学 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G01R31/3185;G01R31/3181 |
| 代理公司： | 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 | 代理人： | 叶树明 |
| 地址： | 710021 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法、系统及装置。其中，该方法包括：初始化BRAM资源所有地址的存储初值；在辐射源打开的情况下，读取BRAM资源预设地址的存储值；将预设地址的存储值与对应的预设地址的存储初值按位进行比较，得到数值不同的位数；在位数小于预设阈值的情况下，记录为存储资源翻转；在位数大于预设阈值的情况下，记录为控制电路翻转。本申请实施例提供的一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法、系统及装置，在对BRAM资源进行辐照试验的过程中，有效的区分了存储资源和控制电路这两种类型的错误，使对BRAM资源进行辐照试验的试验结果更有针对性。提升了辐照试验测试的全面性和有效性，准确的评估FPGA片上BRAM资源的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 fpga bram 资源 辐照 试验 方法 系统 装置 | ||
【主权项】：
1.一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法，其特征在于，包括：初始化BRAM资源所有地址的存储初值；在辐射源打开的情况下，读取BRAM资源预设地址的存储值；将所述预设地址的存储值与对应的预设地址的存储初值按位进行比较，得到数值不同的位数；在所述位数小于预设阈值的情况下，记录为存储资源翻转；在所述位数大于预设阈值的情况下，记录为控制电路翻转。
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