[发明专利]一种移动终端内置传感器性能测试方法及装置有效
| 申请号： | 201811422697.6 | 申请日： | 2018-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN109379479B | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 张旺;庄伯金;王少军;肖京 | 申请（专利权）人： | 平安科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | H04M1/24 | 分类号： | H04M1/24 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 冯晓平 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种移动终端内置传感器性能测试方法及装置，本发明涉及研发管理技术领域，方法包括：设置移动终端内置传感器的预设采样频率，得到第一实际采样数据；根据第一实际采样数据计算传感器的实际采样频率；判断实际采样频率与预设采样频率之间的频率误差值是否超出第一预设误差范围；当在第一预设误差范围内时，逐级提高预设采样频率，直至测得的频率误差值超出第一预设误差范围，将当前的预设采样频率作为最大采样频率；判断最大采样频率是否满足预设要求；当满足预设要求，保存移动终端的型号及移动终端内置传感器的最大采样频率。本发明实施例提供的技术方案能够解决现有技术中传感器性能测试效率低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 移动 终端 内置 传感器 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种移动终端内置传感器性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：设置移动终端内置传感器的预设采样频率，以使所述传感器按照所述预设采样频率进行采样，得到预设采样时长的第一实际采样数据；根据所述第一实际采样数据计算所述传感器的实际采样频率；判断所述实际采样频率与所述预设采样频率之间的频率误差值是否超出第一预设误差范围；当所述频率误差值在所述第一预设误差范围内时，逐级提高所述预设采样频率，直至测得的实际采样频率与所述预设采样频率之间的频率误差值超出所述第一预设误差范围，将当前的预设采样频率作为所述传感器的最大采样频率；判断所述传感器的最大采样频率是否满足预设要求；当所述最大采样频率满足所述预设要求，保存所述移动终端的型号及所述移动终端内置传感器的所述最大采样频率。
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