[发明专利]一种检测晶硅电池光致衰减的设备和方法在审
| 申请号： | 201811429112.3 | 申请日： | 2018-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN109379045A | 公开（公告）日： | 2019-02-22 |
| 发明（设计）人： | 黄惜惜;周肃;黄青松;贾佳;邱家梁;张鑫义;勾宪芳;黄国平;张会学;明杰;陈中一 | 申请（专利权）人： | 中节能太阳能科技（镇江）有限公司 |
| 主分类号： | H02S50/15 | 分类号： | H02S50/15 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王术兰 |
| 地址： | 212000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种检测晶硅电池光致衰减的设备和方法，涉及晶硅太阳电池制技术领域。一种检测晶硅电池光致衰减的设备，包括放置平台、光照模拟器、加热装置、电源以及电压表。该设备结构简单，可快速检测晶硅电池LID(光致衰减)是否合格。一种检测晶硅电池光致衰减的方法，采用上述检测晶硅电池光致衰减的设备对晶硅电池进行检测。该方法可以实现通过一台设备即可快速检测到晶硅电池LID是否合格，不需要使用电池片效率测试仪，不影响产线生产，步骤简单，操作方便；从而实现实时监控电池片LID的目的，降低批量产生电池片LID不合格的风险。 | ||
| 搜索关键词： | 晶硅电池 光致衰减 种检测 快速检测 电池片 晶硅太阳电池 电池片效率 模拟器 产线生产 放置平台 加热装置 设备结构 实时监控 测试仪 电压表 检测 光照 电源 | ||
【主权项】：
1.一种检测晶硅电池光致衰减的设备，其特征在于，包括放置平台，用于放置电池片；光照模拟器，所述光照模拟器位于所述放置平台的上方；加热装置，所述加热装置位于所述放置平台的下方，用于对所述放置平台上的所述电池片进行加热；电源，用于向所述电池片输入电流；电压表，用于检测所述电池片的电压。
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