[发明专利]一种精密量具在审
申请号: | 201811429951.5 | 申请日: | 2018-11-18 |
公开(公告)号: | CN111198030A | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
发明(设计)人: | 孔令国 | 申请(专利权)人: | 孔令国 |
主分类号: | G01G1/32 | 分类号: | G01G1/32;G01G23/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 724300 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种精密量具,可代替传统天平,它利用同名磁极相互排斥的特性使横梁和底座实现了无摩擦配合悬空,寿命长、灵敏度高称量质量更精确,是一种理想的理化实验或理化研究用具。 | ||
搜索关键词: | 一种 精密 量具 | ||
【主权项】:
暂无信息
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