[发明专利]温升预测方法和装置有效
| 申请号： | 201811431311.8 | 申请日： | 2018-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN109541511B | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 万森;姜长青;丁建琦;李路明 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R33/48 |
| 代理公司： | 11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种温升预测方法和装置，用于预测电极在磁共振成像检查、即MRI检查下的温升，所述温升预测方法包括：获取在所述MRI检查下所述电极周围的特定范围的B | ||
| 搜索关键词： | 电极 温升预测 方法和装置 射频场 图像 温升 发热 磁共振成像检查 电极周围 放置位置 医疗设备 系数和 预测 地表 扫描 | ||
【主权项】：
1.一种温升预测方法，用于预测电极在磁共振成像检查、即MRI检查下的温升，其特征在于，所述温升预测方法包括：/n获取在所述MRI检查下所述电极周围的局部区域的B
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