[发明专利]一种复合背面场空间GaInP/GaInAs/Ge电池外延片的制造方法在审
申请号: | 201811431322.6 | 申请日: | 2018-11-26 |
公开(公告)号: | CN109599460A | 公开(公告)日: | 2019-04-09 |
发明(设计)人: | 万智;徐培强;林晓珊;张银桥;汪洋;王向武 | 申请(专利权)人: | 南昌凯迅光电有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0693;H01L31/0687;H01L31/0304 |
代理公司: | 南昌大牛专利代理事务所(普通合伙) 36135 | 代理人: | 喻莎 |
地址: | 330000 江西省南*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本发明公开了一种复合背面场空间GaInP/GaInAs/Ge电池外延片的制造方法,它优化了常规空间晶格匹配GaInP/GaInAs/Ge电池中的背面场层,即:本发明在空间晶格匹配GaInP/InGaAs/Ge电池中的中电池和顶电池分别引入复合背面场结构,中电池为Al0.3Ga0.7As/Ga0.5In0.5P复合背面场结构,顶电池为Al0.33Ga0.15In0.52P/Al0.1Ga0.4In0.5P复合背面场结构。通过复合背面场各层组分和浓度的设计,使背面场内形成导带阶和浓度梯度,使得背面场与基区间电场加强,从而使电池基区中产生的光生载流子到达背面场时反射效率提高,少子更好的被收集,从而提升了电池的光电转化效率。 | ||
搜索关键词: | 背面场 电池 复合 空间晶格 顶电池 外延片 匹配 光电转化效率 光生载流子 反射效率 浓度梯度 电场 导带 基区 少子 背面 制造 引入 优化 | ||
【主权项】:
1.一种复合背面场空间GaInP/GaInAs/Ge电池外延片的制造方法,其特征在于:在常规空间晶格匹配的GaInP/GaInAs/Ge结构的中电池和顶电池分别引入复合背面场层结构,以提高光生载流子的收集效率,从而提升电池效率;具体步骤如下:运用AXITRON公司的2600G3型MOCVD设备,在p‑Ge衬底上依次沉积n‑AlGaInP成核层,n‑GaAs/n‑GaInAs缓冲层,n++‑GaAs/p++‑GaAs隧穿结层,p‑AlGaAs/p‑AlGaInAs(DBR)反射层,p‑Al0.3Ga0.7As/p‑Ga0.5In0.5P复合背面场层,p‑GaInAs基区层,n‑GaInAs发射区层,n‑AlInP窗口层,n++‑GaInP/p++‑AlGaAs隧穿结层,p‑Al0.33Ga0.15In0.52P/p‑Al0.1Ga0.4In0.5P复合背面场层,p‑GaInP基区层,n‑GaInP发射区层,n‑AlInP窗口层和n+‑GaAs欧姆接触层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的