[发明专利]非易失性存储器件在审
申请号: | 201811431880.2 | 申请日: | 2018-11-28 |
公开(公告)号: | CN110277494A | 公开(公告)日: | 2019-09-24 |
发明(设计)人: | 刘香根 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 郭放;许伟群 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供一种非易失性存储器件。根据实施例的非易失性存储器件包括依次设置的第一电极层、第一阻挡层、电阻存储层、第二阻挡层和第二电极层。所述电阻存储层包括莫特材料,所述莫特材料具有根据外部施加的电场而变化的电阻率。 | ||
搜索关键词: | 非易失性存储器件 电阻存储层 阻挡层 电场 第二电极 第一电极 依次设置 电阻率 施加 外部 | ||
【主权项】:
1.一种非易失性存储器件,包括:依次设置的第一电极层、第一阻挡层、电阻存储层、第二阻挡层和第二电极层,其中所述电阻存储层包括莫特材料,所述莫特材料具有根据外部施加的电场而变化的电阻率。
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