[发明专利]飞针测试机的对位方法

摘要

本发明提供了一种飞针测试机的对位方法，包括：获取拼板PCB上各PCB板坐标范围；根据PCB板坐标范围获取各组合PCB坐标范围；确定第一组合PCB上两个第一对位点的第一坐标和第二坐标；确定第二组合PCB与第一组合PCB的第一偏差坐标；根据第一偏差坐标、第一坐标和第二坐标确定第二组合PCB的两个第二对位点的第三坐标和第四坐标；令第一测试轴移动至第一坐标并获取第一机械坐标及第一模板图像；令第二测试轴移动至第二坐标并获取第二机械坐标及第二模板图像；令第一测试轴移动至第三坐标并获取第三机械坐标及第三模板图像；令第二测试轴移动至第四坐标并获取第四机械坐标及第四模板图像。本发明保证了对位精度，实现了测试轴在拼板PCB上的快速对位。

主权项

1.一种飞针测试机的对位方法，所述飞针测试机设有第一测试轴和第二测试轴，其中，第一测试轴设有第一探针和第一CCD相机，第二测试轴设有第二探针和第二CCD相机，其特征在于，所述对位方法包括如下步骤：获取拼板坐标系中的拼板PCB上的各PCB板的坐标范围；将所有所述PCB板按照预设分组规则分组为两个以上的组合PCB，并记录每一个所述组合PCB的分组序列；每一个所述组合PCB板中包含至少一个所述PCB板；根据各所述PCB板的坐标范围，获取所述拼板坐标系中各所述组合PCB的坐标范围；在第一组合PCB的坐标范围内，选取呈对角分布的两个第一对位点，并分别记录两个所述第一对位点在所述拼板坐标系中的第一坐标和第二坐标；所述第一组合PCB为所述分组序列中排序第一的组合PCB；接收第二组合PCB的坐标范围内的第一定位点的选取指令之后，根据所述第二组合PCB与所述第一组合PCB的坐标范围，确定所述第二组合PCB与所述第一组合PCB之间的第一偏差坐标；所述第二组合PCB为除所述第一组合PCB之外的组合PCB；根据所述第一偏差坐标、所述第一坐标和所述第二坐标确定所述第二组合PCB的两个第二对位点，并记录两个所述第二对位点在所述拼板坐标系中的第三坐标和第四坐标；令所述第一测试轴移动至所述第一坐标，并获取所述第一探针的第一机械坐标以及所述第一CCD相机拍摄的第一模板图像；令所述第二测试轴移动至所述第二坐标，并获取所述第二探针的第二机械坐标以及所述第二CCD相机拍摄的第二模板图像；令所述第一测试轴继续根据所述第一偏差坐标移动至所述第三坐标，并获取所述第一探针的第三机械坐标以及所述第一CCD相机拍摄的第三模板图像；令所述第二测试轴继续根据所述第一偏差坐标移动至所述第四坐标，并获取所述第二探针的第四机械坐标以及所述第二CCD相机拍摄的第四模板图像。